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No 제 목 작성자 작성일 조회
34 STEM을 이용한 파워반도체 디바이스 해석(STEM-E.. KTS Global 2018-08-02 232
33 TOF-Depth,Nano SIMS를 이용한 SiC 디바이스의 .. KTS Global 2018-08-02 209
32 3차원 Memory Device의 Tomography해석 KTS Global 2018-08-02 184
31 ESR분석 KTS Global 2018-08-02 85
30 TOF-SIMS에 의한 반도체디바이스의 불순물,Dopan.. KTS Global 2016-09-01 650
29 PALS에 의한 Si산화막 및 질소막 평가 KTS Global 2016-09-01 594
28 반도체 Package시험제작・신뢰성 시험의 .. KTS Global 2015-06-29 379
27 중수가습시험을 이용한 반도체 재료의 흡습성 평.. KTS Global 2015-06-29 341
26 SiC Powder Device Package의 불량해석 KTS Global 2015-06-29 341
25 SiCTip Powder Device에 있어 응력의 온도 의존.. KTS Global 2015-06-29 304

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